電子機器の試験ソリューション

研究開発

電子機器のベンチテスト

製品不具合によるリコールや効率の悪い製品検査に時間をかけることは誰しも避けたいと思う問題です。 ベンチテストの工程にサーモグラフィを活用することで、加熱した箇所を視覚的に捉え、部品やプリント基板の故障や損傷を防止するのに役立ちます。 サーモグラフィカメラで温度分布を得ることにより、コンデンサやレジスタなどの個別部品から変圧器やトランジスタなどのパワー部品に至るまで、熱負荷やパワーサージによる損傷などの問題を特定するのに役立ちます。

お使いの 電気メーターやテストツール に加えて、サーモグラフィでの計測を取り入れれば、 短期間に効率よく検査を行うことができます。 フリアーシステムズは、迅速で正確なサーモグラフィソリューションを提案します。

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ベンチテストに好適なツール

FLIR A35sc テストキット

ベンチトップ赤外線カメラ

FLIR A65sc Test Kit

ベンチトップ型赤外線サーマルカメラ

FLIR ETS320

エレクトロニクス試験用サーモグラフィカメラ

ベンチテストにより多くのフリアーツールを揃えましょう。

FLIR DM66

VFDモードを搭載したTRMSマルチメーター

FLIR DM285

赤外線計測ガイド(IGM™)機能を搭載した産業用イメージングマルチメーター

FLIR DM93

産業用True RMSマルチメーター

ベンチテスト用Extechツール